請和測試部聯(lián)系,根據(jù)樣品難以程度和耗時等因素確認價格。
儀器名稱:S4800場發(fā)射掃描電子顯微鏡
加速電壓15kV下,二次電子分辨率1nm;加速電壓1kV下(減速模式),二次電子分辨率1.4nm; 材料的顯微結構,微區(qū)成分分析,低加速電壓可直接觀察不導電試樣。
主要功能及應用范圍:
掃描電鏡具有高景深、高分辨率、高放大倍數(shù),且操作簡便、樣品制備簡單等特點?捎糜谥苯佑^察樣品表面形貌。廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學、物理、化學、地質(zhì)、機械加工、微電路質(zhì)量檢驗、失效分析等領域。
儀器名稱: FEI Tecnai G2 F20場發(fā)射透射電子顯微鏡
儀器參數(shù):
加速電壓:200kV
高分辨靴 (S-TWIN)
點分辨率:0.24nm;
線分辨率:0.14nmSTEM (HAADF)
分辨率:0.19nm
電子束能量色散:<0.7eV大束流:>100nA;
1nm束斑大束流:>0.5nAEELS (Gatan Enfina)
能量分辨率:0.7eV
EDAX能譜儀 (EDS):5B~92U
主要功能及應用范圍:
可實現(xiàn)材料微觀組織形貌、晶體結構和微區(qū)成分的同位分析。樣品類型包括金屬材料、金屬基復合材料和陶瓷及陶瓷基復合材料的薄膜樣品,以及各種形狀的納米材料等?蓮V泛應用于材料科學、物理、化學、地質(zhì)諸多研究領域。
儀器型號:LABRAM XPLORA
儀器參數(shù):激發(fā)波長532nm-638nm主要功能及應用范圍:
1. 可用于材料鑒定、組成分析乃至材料的異構體區(qū)分:
2. 接受多種形狀的樣品(如瓶裝、小玻璃瓶裝、核磁管裝、片劑、膜劑等)。
儀器名稱:ESCALAB 250 X射線光電子能譜儀
性能指標:
能量分辨率≤0.45eV,
空間分辨率≤20μm,
真空度≤2×10-10mbar;
帶俄歇、紫外光電子能譜附件
主要功能及應用范圍:
測試固體樣品表面成分、化學元素像、化學價態(tài)、深度剖析。
樣品要求:適用于非磁性、非放射性和非揮發(fā)性導體、半導體、絕緣體,粉末、薄膜,無機物、有機物、高聚物材料。
塊體樣品:尺寸(長×寬×高)10 mm×10 mm×3 mm,上下表面平行且平整。樣品無磁性。
粉末樣品:樣品重量:~30 mg,樣品要充分干燥,粉末盡量研細,樣品無磁性,無腐蝕性。
主要功能及應用范圍:
紅外光譜儀可用于中紅外光譜分析。紅外光譜法能提供豐富的有關分子結構方面的信息,可用于有機化合物的鑒別;能對聚合物的化學性質(zhì)、立體結構、構象、序列、取向等提供定性的信息;研究聚合物的主鏈結構、取代基位置、雙鍵位置、側鏈結構以及老化和降解機理;對高分子材料、粘合劑及涂料等組分的定性分析;可用于表面或界面研究。
主要功能及應用范圍:紫外-可見分光光度計可以獲得液體和固體在紫外及近紅外范圍內(nèi)的透射及吸收特性,可以進行分子鑒別,材料吸光度測試,
應用于光催化研究、半導體光催化劑的帶邊測定、液相光催化反應動力學表征、貴金屬納米顆粒表面等離子體共振性能表征、半導體薄膜的吸光度測量、光學濾光片性能檢測等。
儀器名稱: 視頻光學接觸角測量儀
(Video-based, contact angle measuring device)
儀器型號: OCA20
國別、廠家: 德國 Dataphysics 公司
主要技術指標:樣品臺規(guī)格: 100*100mm
接觸角測量范圍: 0~180°±0.1°
表面/界面張力測量范圍:0.01~2000±0.05 mN/m
測試溫度范圍:室溫~400 ℃升溫速率:2k/s高性能六倍聚焦透鏡及CCD攝像系統(tǒng)。
主要附件:
垂直注射針架,無需連接軟管
溫度控制單元(TEC 400)
薄膜及紙張支持器(FSC80、FSH30)
電動劑量單元(E-MD/2)
TC 400/NHD針加熱溫度控制器
NHD 400針加熱系統(tǒng)
主要功能及應用范圍:
本儀器通過光學視頻的原理,采用座滴法(sessile drop)、懸滴法(Pendent drop)測量液體的靜態(tài)、動態(tài)接觸角及液體的表面/界面張力。廣泛應用于納米材料、高分子復合材料、生物復合材料、油漆、涂料、涂層、信息材料等領域表面/界面性能的研究。
主要功能及應用范圍:
將材料制備成紐扣電池,測試鈉離子電池的開路電壓,循環(huán)伏安曲線,不同倍率下的循環(huán)曲線,倍率曲線,交流阻抗圖譜等相關測試。
適用于各種可應用于鈉離子電池正負的材料,包括各種納米粉體材料、納米薄膜材料。
儀器名稱:氣體吸附儀
儀器型號:AUTOSORB-1-C
國別、廠家:美國 QUANTACHROME儀器公司
主要技術指標:
孔徑分析范圍:3.5-5000 Å
比表面測定下限:0.0005 m2/g
孔體積檢測限:<0.0001cc/g
壓力范圍:10-6-0.13MPa
分辨率:0.000025% ofrange
小可分辨相對壓力(P/P0):2.6×10-7(N2)
真空度:3.75×10-10 mmHg
分析站數(shù):1
脫氣站數(shù):2
脫氣溫度:室溫~450 ℃
溫度選擇:1 ℃遞進
溫度精度:±1% ofset point
主要功能及應用范圍:
本儀器兼具化學吸附和物理吸附兩種功能?蓽y定材料的比表面積、孔徑分布、孔體積分布。適用于聚合物粒子、無機多孔粒子、催化劑顆粒的吸附特征及化學吸附現(xiàn)象的研究。
晶片尺寸和類型:單晶片50-200mm;小批量晶片可以大至150mm;156mm x 156mm太陽能硅片;
三維物體;粉末和顆粒;穿孔樣品
工藝溫度: 50 – 500°C ,可定制為更高溫度
基片裝載選件: 氣動升降機(手動裝載);手動loadlock負載保護;半自動裝載機器臂;
前軀體: 液體、固體、氣體、臭氧、等離子;高可以連接12個源、6個獨立管道入口
廣泛應用于:納米材料、納米科技、半導體、薄膜材料、薄膜沉積以及航空航天領域。
儀器名稱:Rigaku D/max 2550V
儀器參數(shù):
X射線發(fā)生器:功率18kW(60kV,450mA),Cu旋轉陽靶
掃描方式:θ-2θ測角儀
X射線發(fā)生器穩(wěn)定度:<0.01%
測角儀精度(2θ):0.002°
主要功能及應用范圍:
適合于物相定性定量分析、晶型鑒別、結晶度測定以及晶胞參數(shù)精確測定等薄膜分析附件,適合于納米材料粒徑尺寸及分布分析
儀器名稱:熱重分析儀-Q500
儀器型號:TA-Q500 TGA
國別、廠家:美國TA公司,簡稱TA公司
主要技術指標:
溫度測量范圍:室溫~1000 ℃
升溫速率:0.1~100 ℃/min
天平靈敏度:0.1 μg
天平精確度:0.01 %
天平精度:0.01 %
爐內(nèi)氣氛: N2 (或Air)
動態(tài)稱重范圍:1000mg
恒溫溫度準確度:1℃
恒溫溫度精確度:0.1℃
主要功能及應用范圍:
用于測定試樣在程序溫度下(升溫、降溫、恒溫)質(zhì)量的變化。由此了解物質(zhì)的熱分解過程,評價物質(zhì)的熱穩(wěn)定性,探討穩(wěn)定性與物質(zhì)結構及添加劑之間的關系。研究物質(zhì)降解過程的機理及降解動力學。
主要功能及應用范圍:
將材料制備成電容器,測試電容器的循環(huán)伏安曲線,不同倍率下的循環(huán)曲線,倍率曲線,交流阻抗圖譜等相關測試。
適用于各種可應用于電容器正負的材料,包括各種納米粉體材料、納米薄膜材料。
收費標準:1000-2000/批次
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